努美科技
010-62029100

探测器光谱辐射响应性能测试装置

名称: 探测器光谱辐射响应性能测试装置

型号: NI1101

品牌: NMERRY努美

  • 详细信息

参数:
▪中心波长精度:优于±1nm;
▪峰值波长精度:优于±1nm;
▪光谱带宽测量精度:优于±0.5nm;
▪相对光谱响应度测量精度:优于±2 %;
▪非均匀性标定误差:优于±1%;
▪像素不均匀性测量精度:1%;
 

应用:
▪线/面阵/TDI 
▪CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱
▪辐射响应性能测试和标定。
 

案例:
▪中科院新疆理化研究所
▪航天八院812所
▪西北工业大学等
 

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